IP1X試驗探棒|Test probe A
基本簡介:
1、根據(jù)GB/T4208-2008、IEC61032:1997、IEC60529:2001及UL等相應(yīng)條款制作而成。
2、A類試驗探棒(A類試驗探球)是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的*器具。
技術(shù)參數(shù):
1、探球直徑:50mm
2、擋板直徑:50mm
3、擋板厚度:4mm
4、手柄直徑:10mm
5、手柄長度:100mm
6、根據(jù)IEC61032圖1(Test probe A) 、GB/T4208-2008表6(*位特征數(shù)字1)
IP2X試驗探棒|Test probe B
產(chǎn)品概述: 符合GB4706、GB2099、GB4943、GB4208IPX2、GB3883圖1、IEC61032圖2試具B、IEC950圖2A、IEC60884、IEC60335、GB/T16842試具B、UL507、EN60529圖1、UL1278圖8.4等標準要求。用于防止手指觸及或防觸電檢驗的防護檢驗。
技術(shù)參數(shù):
1、彎指直徑:12 mm
2、彎指長度:80mm(三節(jié)總長度)
3、擋板直徑:50mm
4、擋板長度:100mm
5、參考標準:GB4706.1-2005第8.1.1條、IEC61032:1997
IP3X試驗探針|Test probe C
基本簡介:
1、根據(jù)GB/T4208-2008、IEC61032:1997、IEC60529:2001及UL等相應(yīng)條款制作而成。
技術(shù)參數(shù):
1、探棒長度:100mm
2、探棒直徑:2.5mm
3、檔球直徑:35mm
4、手柄直徑:10mm
5、手柄長度:100mm
6、根據(jù)IEC61032圖3(Test probe C) 、GB/T4208-2008表6(*位特征數(shù)字3)。
IP4X試驗探針|Test probe D
基本簡介:
1、根據(jù)GB/T4208-2008、IEC61032:1997、IEC60529:2001及UL等相應(yīng)條款制作而成。
技術(shù)參數(shù):
1、探棒長度:100mm
2、探棒直徑:1mm
3、檔球直徑:35mm
4、手柄直徑:10mm
5、手柄長度:100mm
6、根據(jù)IEC61032圖4(Test probe D) 、GB/T4208-2008表6(*位特征數(shù)字4/5/6)
上一篇 : 紫外光對材料的破壞
下一篇 : 單點式恒溫恒濕試驗箱的工作原理